顆粒是組成材料的基本單元，影響材料的性能的不僅是顆粒的化學組成，顆粒的大小與顆粒的形態對材料的性能影響巨大，因此顆粒粒度與形態的檢測越來越受到各行業的重視。
 

　　目前檢測顆粒大小和顆粒形態的方法有多種，激光粒度分析儀、沉降粒度儀、電阻法粒度亦、顆粒圖像分析技術是常用的技術。
 

　　激光粒度分析儀、沉降粒度儀、電阻法粒度儀，只能檢測顆粒大小，不能檢測顆粒形狀;顆粒圖像分析技術具有操作簡單，測試范圍廣，可靠，直觀可視，適用于各種固體顆粒。可以廣泛應用于建材、化工、石油、金屬與非金屬、環保、輕工、等眾多領域的實驗室和在線顆粒粒度與形狀分析。
 

　　顆粒圖像分析儀將是一種將現代電子技術與光學顯微鏡相結合而成的一種粉體顆粒物性檢測儀器。用電子攝像機拍攝經顯微鏡放大的顆粒圖像。圖像信號輸入計算機后，計算機自動進行對顆粒進行形貌特征和粒度進行分析，給出測試報告。
 

　　顆粒圖像分析儀的基本原理：
 

　　光學顯微鏡首先將待測的微小顆粒放大，并成像在CCD攝像機的光敏面上;攝像機將光學圖像轉換成數字圖片信息，然后傳輸并存儲在計算機系統里。
 

　　計算機對接收到的數字化了的顯微圖像信息進行二值化處理，識別顆粒的輪廓。然后按照一定的等效模式，計算各個顆粒的粒徑、圓度等物理參數。一般而言，一幅圖像(即圖像儀的一個視場)包含幾個到上百個不等的顆粒。
 

　　圖像儀能自動計算視場內所有的顆粒的粒徑，并統計，形成粒度報告、圓度報告等。當已經測到的顆粒數不夠多時，可以通過調整顯微鏡的載物臺，換到下一個視場，繼續測試并累計。